溫度沖擊試驗(yàn)箱是根據(jù)相關(guān)測試標(biāo)準(zhǔn)要求來設(shè)計(jì)的，國內(nèi)有很多關(guān)于溫度沖擊試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)，比如：

MIL-STD-8010F第二部分方法503.4 環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)第Ⅱ部分實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)方法 溫度沖擊程序

1.恒定極值溫度沖擊程序

2.基于高溫循環(huán)的沖擊

這個標(biāo)準(zhǔn)的目的是確定裝備能否經(jīng)受其周圍大氣溫度的急劇變化，而不產(chǎn)生物理損壞或性能下降?！凹眲∽兓倍x為“大于10℃/min”。

GB 2423電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 溫度變化試驗(yàn)方法Na 規(guī)定轉(zhuǎn)換時間的快速溫度變化試驗(yàn)Nb 規(guī)定溫度變化速率的溫度變化試驗(yàn)Nc 兩液槽溫度快速變化試驗(yàn)

這個標(biāo)準(zhǔn)的目的是確定原件、設(shè)備和其它產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力。

這兩個標(biāo)準(zhǔn)中溫度沖擊試驗(yàn)敘述的試驗(yàn)?zāi)康幕疽恢?，只是表達(dá)方式略有區(qū)別。應(yīng)當(dāng)指出，這種表達(dá)方式比較含糊和籠統(tǒng)。實(shí)際上溫度沖擊試驗(yàn)作為一種工具，應(yīng)用在產(chǎn)品研制生產(chǎn)的不同階段時其目的是不同的。

工程研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和工藝缺陷；產(chǎn)品定型或設(shè)計(jì)鑒定和批產(chǎn)階段用于驗(yàn)證產(chǎn)品對溫度沖擊環(huán)境的適應(yīng)性，為設(shè)計(jì)定型和批產(chǎn)驗(yàn)收決策提供依據(jù)；作為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用時，目的是剔除產(chǎn)品的早期故障。

常見的溫度沖擊試試驗(yàn)條件：

高溫箱：RT～150℃，低溫箱：RT～-40℃，試驗(yàn)溫度保持時間：1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時間長者為準(zhǔn),循環(huán)次數(shù)：針對各個不同行業(yè)不同廠家所對應(yīng)的試驗(yàn)要求不一樣，按照標(biāo)準(zhǔn)上的試驗(yàn)方法測試。